Das RTU 600 Modul ist eine konsequente Erweiterung der RTU-300 Plattform in Richtung 40/100G. Das Modul unterstützt zwei voneinander unabhängige QSFP28 / QSFP+ Ports für 100GE/OTU4 bzw. 40GE/OTU3 Anwendungen. Das Modul kann im Stand Alone Mode (via VNC bzw. Remote Web Access) oder in der VeSionTM Anwendung bedient werden. Das Modul adressiert den Headend / Core Markt um an zentraler Stelle hochverfügbare Gegenstellen für die portablen Tester der TX340S-100G bzw. RxT6200 Serie abzubilden. Unterstützt werden, je nach Chassis Ausstattung Datenraten von 10Mbit/s bis 100Gbit/s. Typische Testmethoden z.B. nach ITU-T Y.1564 stehen standardmäßig zur Verfügung. Die Tests können in den Layern 2-4 konfiguriert werden. Ergänzend erlauben Kombinationen aus Feldtester und RTU auch reproduzierbare Tests nach RFC6349 (V-Perf, Stateful TCP) bzw. V-Test (Ookla™ Speedtest).
https://www.veexinc.com/products/rtu-600
Module Highlights
Allgemein
- 1 Port QSFP28 für 100GE und OTU4
- unterstützt IEEE 802.3bj Clause 91, RS-FEC as required for SR4 (for QSFP28)
- 1 Port QSFP+ für 40GE und OTU3
- Externer Takteingang
- 150ppm Clock Offset Erzeugung
Ethernet
- 40 Gbit/s und 100 Gbit/s Ethernet Tests
- unterstützt IEEE 802.3bj Clause 91 RS-FEC
- Optical Lane BERT und CAUI-4/XLAUI Lane BERT
- PCS Layer Testing mit Skew Erzeugung und Monitoring
- Multi-Stream Tests bis zu 32 unabhängige Streams
- IEEE 802.3ah, ITU-T Y.1731, IEEE 802.1ag, MPLS-TP OAM Unterstützung
- Q in Q (VLAN stacking), MPLS, MPLS-TP, PBB, EoE Unterstützung
- MAC Flooding
- RFC2544 und V-SAM (ITU-T Y.1564) Tests
- Service Disruption Time Messungen
- IPv4 und IPv6 Daten Erzeugung
- BERT und Throughput Tests im Layer 2 und Layer 3
- Smart Loopback Mode für Layer 2 und Layer 3
- Line Rate Packet Capture mit Wireshark™ Decode
- Error und Alarm Injection
OTN Testing
- OTN Tests für OTU3 und OTU4
- Komplettes Multi-Stage Mapping/Multiplexing
- Ethernet over OTN
- Service Disruption Time Messungen
- Tandem Connection Monitoring
- Overhead Monitoring und Byte Decoding
- Terminate, Payload Through und Line Through Test Modi
- Per-lane Optical Power und Frequenz Messungen
- Externes Clock Referenzinterface
- Histogram Analyse
