{"id":29614,"date":"2022-03-07T17:17:03","date_gmt":"2022-03-07T16:17:03","guid":{"rendered":"https:\/\/dhs-tools.de\/?post_type=product&#038;p=29614"},"modified":"2025-02-18T16:22:11","modified_gmt":"2025-02-18T15:22:11","slug":"veex-rxt-6402-400gethernettester","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/produkt\/veex-rxt-6402-400gethernettester\/","title":{"rendered":"VeEX RXT-6402"},"content":{"rendered":"<p>VeEX\u00ae RXT ist die branchenweit flexibelste, kompakteste und zukunftssicherste Handheld-Testl\u00f6sung f\u00fcr Transport, Core, Rechenzentrum, Metro und Zugang.<\/p>\n<p>Der RXT-6402 Dual 400G All-in-One Field Tester bietet die Flexibilit\u00e4t zum Testen aller Schnittstellen und Raten sowie zuk\u00fcnftige Erweiterbarkeit f\u00fcr Anwendungen wie Transport, Metro, Aggregation, Datacenter Inter\/Intra\/Cross-Connect, Cloud Computing, 5G Backhaul und NEMs.<\/p>\n<ul>\n<li>400G bis hinunter zu 10M Ethernet-Tests<\/li>\n<li>eCPRI, CPRI &amp; OBSAI<\/li>\n<li>Fibre-Channel<\/li>\n<li>OTN, SDH\/SONET, PDH\/DSn<\/li>\n<\/ul>\n<h4>Highlights<\/h4>\n<p>Die RXT-6400-Familie ist die f\u00fchrende Testl\u00f6sung f\u00fcr tragbare 400G-Tests, wobei der RXT-6402 seine Anwendungen und Flexibilit\u00e4t erweitert.<\/p>\n<p>Ausgestattet zur Unterst\u00fctzung aller g\u00e4ngigen optischen Transceiver-Formfaktoren, AOCs und DACs, ist dieses Modul eine perfekte Erg\u00e4nzung zur RXT-Plattform<\/p>\n<p>Sie erweitert den Testbereich auf &lt;10 M bis 400 Gbps und bietet einen zuk\u00fcnftigen Upgrade-Pfad f\u00fcr einen einzelnen All-in-One 400GE Multi-Service-Tester.<\/p>\n<p>Installations-, Verifizierungs-, Inbetriebnahme-, Evaluierungs- und Wartungsaufgaben werden durch eine Kombination aus intuitiver GUI und leistungsstarken Testfunktionen vereinfacht. Anf\u00e4nger profitieren von der benutzerfreundlichen GUI, w\u00e4hrend erfahrene Benutzer eine Reihe von erweiterten Funktionen der Schichten 1 bis 4 zu sch\u00e4tzen wissen, wie z.B. BERT, Durchsatztest, IPv4\/IPv6 und vieles mehr.<\/p>\n<h4>Allgemein<\/h4>\n<ul>\n<li>Bis zu vier gleichzeitige, unabh\u00e4ngige Tests.<\/li>\n<li>Duale 400G-Ethernet-Testfunktionen.<\/li>\n<li>Native QSFP-DD-, QSFP56- und SFP-DD PAM4-Hardware f\u00fcr erstklassige Signalintegrit\u00e4t (keine Adapter erforderlich).<\/li>\n<li>Bietet alle notwendigen Funktionen zum Testen aller g\u00e4ngigen Formfaktoren, einschlie\u00dflich QSFP-DD, QSFP56, SFP-DD-Transceiver, DAC, AOCs, Fan-Out, Netzwerkger\u00e4te und 400GE-Links.<\/li>\n<li>Fortschrittliches und flexibles, hochmodernes FPGA-basiertes Design bietet zukunftssichere Hardwareunterst\u00fctzung f\u00fcr neue Standards, Testfunktionen und Anwendungen.<\/li>\n<li>Gro\u00dfe Auswahl an unterst\u00fctzten 400GE-Schnittstellen.<\/li>\n<li>I2C\/MDIO registriert Lesen und Schreiben.<\/li>\n<li>PAM4 Pre-Emphasis-Einstellungen Per-Lane.<\/li>\n<li>KP4 FEC-Codewortsymbolfehlerverteilung und Skew.<\/li>\n<li>Transceiver-Energieverbrauchs\u00fcberwachung (Spannung, Strom) und variable Spannungsversorgung.<\/li>\n<li>Interne und externe (K\u00e4fig) QSFP-DD-Temperatur\u00fcberwachung.<\/li>\n<li>Hocheffizientes intelligentes K\u00fchlsystem.<\/li>\n<li>Dedizierte QSFP-DD-Kopfk\u00fchll\u00fcfter (vor Ort austauschbar) zur Verl\u00e4ngerung der Lebensdauer der Transceiver.<\/li>\n<\/ul>\n<h4>Anwendungen<\/h4>\n<ul>\n<li>Inbetriebnahme, \u00dcberpr\u00fcfung und Fehlerbehebung von Hochgeschwindigkeits-Ethernet-Verbindungen.<\/li>\n<li>Optische Transceiver, DAC, AOC und Fan-out-\u00dcberpr\u00fcfung.<\/li>\n<li>Evaluierungslabore und Feldunterst\u00fctzung.<\/li>\n<li>Umfassende Testanwendungen f\u00fcr die Schichten 1 bis 4, von 10M bis 400GE.<\/li>\n<li>Full-Rate-400GE-Durchsatz- und Frame-Loss-Messungen.<\/li>\n<li>PCS- und RS-FEC-Schichttests.<\/li>\n<li>PAM4-Signalintegrit\u00e4tstest mit mehrspurigem, ungerahmtem BERT.<\/li>\n<li>I2C\/MDIO-Verifizierung und -Programmierung.<\/li>\n<li>Erweiterter optischer Transceiver-Test.<\/li>\n<li>Unterst\u00fctzung f\u00fcr \u00e4ltere und erg\u00e4nzende \u00dcbertragungstechnologien.<\/li>\n<li>Tragbar f\u00fcr Feldtests, Bewertungen, Demonstrationen, Interop-Check, Benchmarking, Fehlerbehebung, Verbindungs\u00fcberpr\u00fcfung usw.<\/li>\n<li>Akkuleistung f\u00fcr Mobilit\u00e4t in gro\u00dfen Rechenzentren, Knoten, Cos, F&amp;E und Evaluierungslabors.<\/li>\n<\/ul>\n<h4>Schnittstellen testen<\/h4>\n<ul>\n<li>2x QSFP-DD (PAM4)<\/li>\n<li>2x QSFP56\/QSFP28\/QSFP+ (PAM4\/NRZ)<\/li>\n<li>2x SFP-DD\/SFP56\/SFP28 (PAM4\/NRZ)<\/li>\n<li>2x SFP+\/SFP (NRZ)<\/li>\n<li>2x RJ45<\/li>\n<li>1x RJ48 und 3x SMA (Legacy)<\/li>\n<li>2x Clock-Eing\u00e4nge und 2x Ausg\u00e4nge<\/li>\n<\/ul>\n<h4>Erweiterte optische Transceiver-Testsuite<\/h4>\n<ul>\n<li>Vor-FEC-BER-Validierung auf Per-Lane-Basis, \u00fcber Betriebsspannung und Frequenzoffsetbereich, um die Integrit\u00e4t des optischen Moduls zu \u00fcberpr\u00fcfen, bevor FEC auf das PAM4-Signal (400GE-Schnittstellen) angewendet wird.<\/li>\n<li>Pre-Framed BER (Lane BERT)-Validierung f\u00fcr Nicht-PAM4-Schnittstellen.<\/li>\n<li>Spannung, Temperatur und Pre-FEC BER werden \u00fcberwacht und f\u00fcr die Dauer des Tests angezeigt. Eine Histogramm Funktion zeigt alle drei Messungen deutlich an, um eine einfache Korrelation und Verfolgung abnormaler Ver\u00e4nderungen zu erm\u00f6glichen.<\/li>\n<li>Pre-FEC BER und optische Leistungsschwelleneinstellungen f\u00fcr die PASS\/FAIL-Anzeige.<\/li>\n<li>Pre-Emphasis: Pre-Taps, Post-Taps und D\u00e4mpfungseinstellungen f\u00fcr die PAM4-Signalkonditionierung auf der Hostseite, um die Toleranz und Leistung des Transceivers zu \u00fcberpr\u00fcfen und zu betonen.<\/li>\n<li>\u00dcberpr\u00fcfung der Versorgungsspannungstoleranz: Wobbelbereich von 3,135 V bis 3,465 V (3,300 V +\/- 5 %), um die Einhaltung des MSA-Standards f\u00fcr optische Transceiver zu \u00fcberpr\u00fcfen.<\/li>\n<li>\u00dcberpr\u00fcfung der Leistungsaufnahme: \u00dcberwacht die Leistungsaufnahme des optischen Transceivers (Watt), um die \u00dcbereinstimmung mit der angegebenen Leistungsklasse zu \u00fcberpr\u00fcfen.<\/li>\n<li>Temperatur\u00fcberwachung: QSFP-DD-Modul- und K\u00e4figtemperatur\u00fcberwachung mit eingebautem Abschaltschutz des optischen Moduls, wenn die Temperatur \u00fcber eine bestimmte hohe Temperatur ansteigt.<\/li>\n<li>\u00dcberpr\u00fcfung der Frequenztoleranz: Wobbelbereich von -100 ppm bis +100 ppm (in 0,1 ppm\/Schritt), um die Einhaltung der Toleranzspezifikation 400GE IEEE 802.3 +\/- 20 ppm zu \u00fcberpr\u00fcfen.<\/li>\n<li>I2C-Baudraten-Sweep: QSFP-DD- und OSFP-Sweep-Bereich 100K bis 4000K. QSFP28-Sweep-Bereich (20K bis 1000K).<\/li>\n<li>Belastungstest: Pr\u00e4- und Post-FEC-Testsuite.<\/li>\n<li>MDIO-Lesen\/Schreiben<\/li>\n<li>Optische Leistungsmessung<\/li>\n<li>Taktquellen \u00fcbertragen<\/li>\n<li>Funktionen zur Erzeugung und Messung des Netzfrequenz-Offsets.<\/li>\n<\/ul>\n<p>Das neue RXT-6402 400GE-Testmodul bleibt die branchenweit kompakteste und leistungsst\u00e4rkste Handheld-Testl\u00f6sung, die derzeit zur Unterst\u00fctzung der kommerziellen Bereitstellung von 400GE erh\u00e4ltlich ist.<\/p>\n<p>Als echtes Handheld mit Batteriebetrieb reduziert der RXT die Testzeit in gro\u00dfen Rechenzentren und Aggregationsknoten.<\/p>\n<p>Dies spart Zeit und erh\u00f6ht die Effizienz und Benutzerfreundlichkeit f\u00fcr FAEs, Installations- und Wartungsteams, die in gro\u00dfen Ger\u00e4ter\u00e4umen, Rechenzentrums-Clustern oder Kundenstandorten arbeiten.<\/p>\n<p>Dar\u00fcber hinaus sind Mobilit\u00e4t und reduzierte Gr\u00f6\u00dfe und Gewicht auch f\u00fcr NEMs und Transceiver-Anbieter wichtig, die rund um den Globus reisen, um neue L\u00f6sungen zu bewerben, Demonstrationen durchzuf\u00fchren, Interop-Tests, Benchmarking, Fehlerbehebung, Bewertungen und Unterst\u00fctzung ihrer Kunden zu unterst\u00fctzen.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Duales 400G-Multi-Service-Testmodul<\/p>\n<p>All in one von 1.5MB bis 400G<\/p>\n<p>Dual Port f\u00fcr ale Interfaces<\/p>\n<p>Bis zu vier unabh\u00e4ngige Tests<\/p>\n","protected":false},"featured_media":29619,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_editorskit_title_hidden":false,"_editorskit_reading_time":0,"_editorskit_is_block_options_detached":false,"_editorskit_block_options_position":"{}","_coblocks_attr":"","_coblocks_dimensions":"","_coblocks_responsive_height":"","_coblocks_accordion_ie_support":"","editor_notices":[]},"product_brand":[],"product_cat":[17,53,48],"product_tag":[439],"class_list":["post-29614","product","type-product","status-publish","has-post-thumbnail","product_cat-kommunikationsmesstechnik","product_cat-ethernet","product_cat-glasfasermesstechnik-und-zubehoer","product_tag-400-g-dual-port-tester","first","outofstock","shipping-taxable","product-type-simple"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/product\/29614","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/product"}],"about":[{"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/types\/product"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/media\/29619"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=29614"}],"wp:term":[{"taxonomy":"product_brand","embeddable":true,"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/product_brand?post=29614"},{"taxonomy":"product_cat","embeddable":true,"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/product_cat?post=29614"},{"taxonomy":"product_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/dhs-tools.de\/at\/wp-json\/wp\/v2\/product_tag?post=29614"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}